Re: velocità degli elettroni in un conduttore

From: Michele Falzone <falzonemichele_at_libero.it>
Date: Fri, 24 Oct 2003 14:36:07 +0200

Franco ha scritto:

> Michele Falzone wrote:

> > Ho cercato tra i numeri che ho in citt�, ma credo che siano accatastati
> > in campagna, ti prometto che per il fine settimana, in campagna far� una
> > ricerca pi� approfondita e ti dar� tutti i riferimenti, in ogni caso deve
> > essere fine 2002 e inizio 2003 ricordo di averne parlato si it.scienze.

> Se e` cosi` recente guardo io (su scientific american, spero ci sia
> anche li`), grazie.

A volte i posti pi� banali non si guardano e oggi approfittando della
giornata di sciopero ho dato una ricontrollata, trovando l'articolo sul
numero 404 di LE SCIENZE aprile 2002 dal titolo cariche frazionarie,
nell'articolo si cita che le cariche frazionarie hanno fatto la loro
comparsa pi� di 20 anni fa.
Ancora restano entit� misteriose, queste non sarebbero n� fermioni n�
bosoni, ma rappresenterebbero delle entit� di caratteristiche intermedie
chiamate anioni e a detta di chi scrive l'articolo anche se non si capisce
il principio di funzionamento si sono fatte delle misure sperimentali
misurando il rumore prodotto.
Da quello che ricordo ho riportato questa notizia mi pare su it.scienza e
forse anche su questo gruppo, ma a quanto pare esistono persone con il
bollino blu e persone con il bollino nero, e a quanto pare io appartengo
a quest'ultima categoria e pertanto non credute, per il solo fatto che
credo che la corrente elettrica non sia un flusso ordinato di cariche
elementari, ma solo un orientamento degli elettroni di conduzione
indipendentemente da cosa siano realmente, ma mi consola il sapere che non
sono il solo.
 Convinzione che non nasce da considerazioni metafisiche, ma dal fatto di
avere costruito un modello matematico che dimostra che il campo magnetico
� prodotto solo da un particolare orientamento degli elettroni nel
conduttore ed � questo che praticamente determina sia quello che noi
chiamiamo campo magnetico prodotto da una corrente e sia la forza di
attrazione o di repulsione tra conduttori percorsi da corrente elettrica e
da questo modello si deduce che la corrente elettrica � soltanto il numero
di cariche interamente parzialmente orientate, dimostrazioni integralmente
riportate su questo gruppo dove si evince chiaramente che le forze tra
conduttori percorsi da corrente � dovuta solo a interazioni coulombiane di
tipo pulsanti ma mediamente non nulle considerando i tempi di ritardo
delle singole interazioni, ma a quanto pare le cichita dal bollino nero
non meritano nessuna attenzione e con la scusa di non essere state capite
non sono state neppure guardate.


> >>Dipende dalla lunghezza della linea e dal carico. I microprocessori sono
> >>di solito ben protetti all'ingresso con diodi di clamp. I primi che sono
> >>usciti avevano dei problemi in piu`. Alcuni dei vecchi microprocessori o
> >>altri circuiti integrati andavano in latch-up solo a guardarli (e il
> >>latch up e` determinato dalle sovratensioni su ingressi e uscite).
> >
> >
> > Grazie per le informazioni, ma quelli si dovevano manipolare con molta
> > cura, ma in ogni caso escludo che si potevano rompere per il motivo da te
> > riportato, una volta montati.

> La manipolazione riguarda i problemi di scariche elettrostatiche.

   Scariche elettrostatiche che si verificano solo quando l'ingresso �
aperto, il problema si presenta per il fatto di avere una elevatissima
impedenza di ingresso e pertanto le cariche non riescono a scaricarsi,
scusa il giuoco di parole, ma il problema non esiste pi� dal momento che
l'ingresso � collegato, in quanto la tensione di rottura � di gran lunga
superiore al doppio della tensione di normale funzionamento o di
commutazione riportata dalla casa costruttrice, pertanto la rottura la si
pu� solo imputare ad una cattiva progettazione del circuito di ingresso e
non ad un cattivo adattamento della linea di ingresso.

> Una volta montati nel circuito, la rottura per latch up avveniva
> abbastanza spesso in caso di sovra-sotto tensioni sulle linee di
> ingresso e uscita dovuta a riflessioni e a ground bounce.
> Da parecchi anni per fortuna le strutture integrate sono piu` robuste e
> progettate con anelli di guardia, e cose simili.

Pi� propriamente con opportuni diodi polarizzati inversamente, ma � ben
diverso sovraccaricare del 100% ed una scarica su un'elevatissima
impedenza di ingesso, scarica assolutamente non gestibile.

> >
> > Perfetto ma in ogni caso ha una sua ben precisa tensione di ingresso e
> > cosa ben pi� importante una sua tolleranza, che tu mi insegni nei
> > componenti elettronici spesso le due cifre non bastano, e un raddoppio,
> > caso peggiore di onda riflessa, della tensione di ingresso sicuramente non
> > innesca la rottura dell'ossido,

> Abbastanza incosueta, ma puo` capitare. Se i gate sono protetti, i diodi
> di protezione possono far partire la valanga nel substrato.

  Se dobbiamo fare entrare per forza il cammello dalla cruna dell'ago, ti
do ragione, anche se per mio scrupolo ho chiesto ad alcuni colleghi che
lavorano ed hanno lavorato in passato con apparecchiature del genere, ed
ho avuto conferma che quello che dico io � corretto e a sbagliare saresti
tu..

> > sicuramente mai per un cattivo adattamento della linea sull'ingresso, al
> > pi� non funziona in quel particolare circuito.

> Il non funzionamento e` il sintomo piu` comune. Le rotture sono piu`
> rare ma si verificano.

  Cominciamo ad arrivare a un compromesso, specialmente se consideriamo
che dopo la rottura � molto difficile imputarne l'esatta causa.

> > Ti prego non insistere,

> Gentile! Se dici cose incomplete o non corrette, credo di poter
> aggiungere qualche cosa. Se non hai mai visto una rottura da latchup
> dovuta a disadattamento non e` colpa mia :-)


   Quasi mai per un disaccoppiamento e neppure i miei colleghi

     Ciao Michele


-- 
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Received on Fri Oct 24 2003 - 14:36:07 CEST

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